本发明公开了一种硅橡胶微观结构评价方法，包括：响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区；选取待测伞裙中间双赢在线 双赢彩票官网层试样，并基于伞裙中间层试样，在电子观察区测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率；选取待测伞裙表层试样，基于待测伞裙表层试样，在电子观察区确定裂纹特征，待测伞裙表层试样和待测伞裙中间试样均从待测绝缘子上采集；基于预先设定的微观结构评价准则，结合填料粒径、孔隙率和裂纹特征，得到待测绝缘子的评价等级。建立一种针对绝缘子微观结构的等级评价方法，并根据评价双赢在线 双赢彩票官网得到的微观结构等级，准确获取待测绝缘子的吸水率

　　(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114166705 A (43)申请公布日 2022.03.11 (21)申请号 9.7 G01N 33/44 (2006.01) (22)申请日 2021.12.06 (71)申请人 南方电网科学研究院有限责任公司 地址 510663 广东省广州市萝岗区科学城 科翔路11号J1栋3、4、5楼及J3栋3楼 申请人 中国南方电网有限责任公司 (72)发明人 曾向君卢威张福增王黎明 肖微赵晨龙王婷婷 (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 代理人 李秋梅 (51)Int.Cl. G01N 15/02 (2006.01) G01N 15/08 (2006.01) G01N 23/2251 (2018.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图6页 (54)发明名称 一种硅橡胶微观结构评价方法 (57)摘要 本发明公开了一种硅橡胶微观结构评价方 法，包括：响应于评价请求，从光学观察区域中确 定电子观察区；选取待测伞裙中间层试样，并基 于伞裙中间层试样，在电子观察区测量待测绝缘 子的填料粒径、孔隙率；选取待测伞裙表层试样， 基于待测伞裙表层试样，在电子观察区确定裂纹 特征，待测伞裙表层试样和待测伞裙中间试样均 从待测绝缘子上采集；基于预先设定的微观结构 评价准则，结合填料粒径、孔隙率和裂纹特征，得 到待测绝缘子的评价等级。建立一种针对绝缘子 微观结构的等级评价方法，并根据评价得到的微 观结构等级，准确获取待测绝缘子的吸水率、极 A 化损耗程度和异常发热程度信息。 5 0 7 6 6 1 4 1 1 N C CN 114166705 A 权利要求书 1/2页 1.一种硅橡胶微观结构评价方法，其特征在于，包括： 响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； 选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察区测量待测 绝缘子的填料粒径、孔隙率； 选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观察区确定裂纹特 征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子上采集； 基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和所述裂纹特征， 得到所述待测绝缘子的评价等级。 2.根据权利要求1所述的硅橡胶微观结构评价方法，其特征在于，选取所述伞裙中间层 试样，并基于所述伞裙中间层试样测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率，包括： 在所述电子观察区测量所述伞裙中间层试样中填料的外接球最大直径，得到所述填料 粒径； 在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素点总数量，确定所述孔隙率，所 述像素点总数量为孔隙像素点数量与其他像素点数量之和。 3.根据权利要求1所述的硅橡胶微观结构评价方法，其特征在于，在所述电子观察区 中，通过统计孔隙像素点数量和像素点总数量，确定所述孔隙率，包括： 选取灰度值在区间[0,100]的像素点所组成的区域为所述孔隙像素点； 选取灰度值在区间[101,255]的像素点所组成的区域为所述其他像素点； 以所述孔隙像素点与所述像素点总数量之比作为孔隙率。 4.根据权利要求1‑3中任一所述的硅橡胶微观结构评价方法，其特征在于，选取待测伞 裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察区测量待测绝缘子的填料粒 径、孔隙率之前，还包括： 清洗所述待测绝缘子表面的灰尘和脏污； 通过金属溅射设备对清洗后的所述待测绝缘子表面进行喷金处理。 5.一种硅橡胶微观结构评价装置，其特征在于，包括： 响应模块，用于响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； 测量模块，用于选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观 察区测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率； 裂纹特征确定模块，用于选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述 电子观察区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测 绝缘子上采集； 等级确定模块，用于基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙 率和所述裂纹特征，得到所述待测绝缘子的评价等级。 6.根据权利要求5所述的硅橡胶微观结构评价装置，其特征在于，所述测量模块包括： 填料粒径确定子模块，用于在所述电子观察区测量所述伞裙中间层试样中填料的外接 球最大直径，得到所述填料粒径； 孔隙率确定子模块，用于在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素点总 数量，确定所述孔隙率，所述像素点总数量为孔隙像素点数量与其他像素点数量之和。 7.根据权利要求5所述的硅橡胶微观结构评价装置，其特征在于，所述孔隙率确定子模 2 2 CN 114166705 A 权利要求书 2/2页 块包括： 第一选取单元，用于选取灰度值在区间[0,100]的像素点所组成的区域为所述孔隙像 素点； 第二选取单元，用于选取灰度值在区间[101,255]的像素点所组成的区域为所述其他 像素点； 孔隙率确定单元，用于以所述孔隙像素点与所述像素点总数量之比作为孔隙率。 8.根据权利要求5‑7中任一所述的硅橡胶微观结构评价装置，其特征在于，所述装置还 包括： 清洗模块，用于清洗所述待测绝缘子表面的灰尘和脏污； 喷金模块，用于通过金属溅射设备对清洗后的所述待测绝缘子表面进行喷金处理。 9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机可读 取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如权利要求1‑4任一项所述的 方法。 10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执 行时运行如权利要求1‑4任一项所述的方法。 3 3 CN 114166705 A 说明书 1/8页 一种硅橡胶微观结构评价方法 技术领域 [0001] 本发明涉及结构检测领域，尤其涉及一种硅橡胶微观结构评价方法。 背景技术 [0002] 我国从20世纪80年代开始在电力系统中大量使用复合绝缘子，虽然复合绝缘子具 有良好的憎水性、耐漏电起痕性和抗冲击性，但随着运行次数增多以及运行环境变复杂，复 合绝缘子大面积异常发热的情况经常出现。 [0003] 现有研究表明，复合绝缘子高压端部异常发热的主要是因为复合绝缘子吸收了水 分，导致极化发热。而不同硅橡胶材料微观结构的硅橡胶复合绝缘子具有不同的吸水性，且 吸水后极化发热程度也不同。 [0004] 目前对于复合绝缘子硅橡胶材料微观结构没有明确的评价方法，无法准确评价复 合绝缘子硅橡胶材料的等级，更无法根据复合绝缘子硅橡胶材料的等级，准确获取吸水率、 极化损耗程度和异常发热程度信息。 发明内容 [0005] 本发明提供了一种硅橡胶微观结构评价方法，用于准确评价绝缘子材料的微观结 构等级，从而根据微观结构等级准确获取待测绝缘子的吸水率、极化损耗程度和异常发热 程度信息。 [0006] 第一方面，本发明提供的一种硅橡胶微观结构评价方法，包括： [0007] 响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； [0008] 选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察区测量 待测绝缘子的填料粒径、孔隙率； [0009] 选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观察区确定裂 纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子上采集； [0010] 基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和所述裂纹 特征，得到所述待测绝缘子的评价等级。 [0011] 可选地，选取所述伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样测量待测绝缘子 的填料粒径、孔隙率，包括： [0012] 在所述电子观察区测量所述伞裙中间层试样中填料的外接球最大直径，得到所述 填料粒径； [0013] 在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素点总数量，确定所述孔隙 率，所述像素点总数量为孔隙像素点数量与其他像素点数量之和。 [0014] 可选地，在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素点总数量，确定所 述孔隙率，包括： [0015] 选取灰度值在区间[0,100]的像素点所组成的区域为所述孔隙像素点； [0016] 选取灰度值在区间[101,255]的像素点所组成的区域为所述其他像素点； 4 4 CN 114166705 A 说明书 2/8页 [0017] 以所述孔隙像素点与所述像素点总数量之比作为孔隙率。 [0018] 可选地，选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察 区测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率之前，还包括： [0019] 清洗所述待测绝缘子表面的灰尘和脏污； [0020] 通过金属溅射设备对清洗后的所述待测绝缘子表面进行喷金处理。 [0021] 第二方面，本发明还公开了一种硅橡胶微观结构评价装置，包括： [0022] 响应模块，用于响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； [0023] 测量模块，用于选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电 子观察区测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率； [0024] 裂纹特征确定模块，用于选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在 所述电子观察区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述 待测绝缘子上采集； [0025] 等级确定模块，用于基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述 孔隙率和所述裂纹特征，得到所述待测绝缘子的评价等级。 [0026] 可选地，所述测量模块包括： [0027] 填料粒径确定子模块，用于在所述电子观察区测量所述伞裙中间层试样中填料的 外接球最大直径，得到所述填料粒径； [0028] 孔隙率确定子模块，用于在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素 点总数量，确定所述孔隙率，所述像素点总数量为孔隙像素点数量与其他像素点数量之和。 [0029] 可选地，所述孔隙率确定子模块包括： [0030] 第一选取单元，用于选取灰度值在区间[0,100]的像素点所组成的区域为所述孔 隙像素点； [0031] 第二选取单元，用于选取灰度值在区间[101,255]的像素点所组成的区域为所述 其他像素点； [0032] 孔隙率确定单元，用于以所述孔隙像素点与所述像素点总数量之比作为孔隙率。 [0033] 可选地，所述装置还包括： [0034] 清洗模块，用于清洗所述待测绝缘子表面的灰尘和脏污； [0035] 喷金模块，用于通过金属溅射设备对清洗后的所述待测绝缘子表面进行喷金处 理。 [0036] 第三方面，本申请提供一种电子设备，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有 计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如上述第一方面 提供的所述方法中的步骤。 [0037] 第四方面，本申请提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被 处理器执行时运行如上述第一方面提供的所述方法中的步骤。 [0038] 从以上技术方案可以看出，本发明具有以下优点： [0039] 本发明通过响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区；选取待测伞裙 中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察区测量待测绝缘子的填料粒径、 孔隙率；选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观察区确定裂纹 特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子上采集；基于 5 5 CN 114166705 A 说明书 3/8页 预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和所述裂纹特征，得到所述 待测绝缘子的评价等级。建立一种针对绝缘子硅橡胶微观结构的等级评价方法，并根据评 价得到的微观结构等级，准确获取待测绝缘子的吸水率、极化损耗程度和异常发热程度信 息。 附图说明 [0040] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可 以根据这些附图获得其它的附图。 [0041] 图1为本发明的一种硅橡胶微观结构评价方法实施例一的步骤流程图； [0042] 图2为本发明的一种硅橡胶微观结构评价方法实施例二的步骤流程图； [0043] 图3为本发明的I级绝缘子材料的微观结构图片； [0044] 图4为本发明的I级绝缘子材料的微观结构灰度处理后的图片； [0045] 图5为本发明的Ⅱ级绝缘子材料的微观结构图片； [0046] 图6为本发明的Ⅱ级绝缘子材料的微观结构灰度处理后的图片； [0047] 图7为本发明的Ⅲ级绝缘子材料的微观结构图片； [0048] 图8为本发明的Ⅲ级绝缘子材料的微观结构灰度处理后的图片； [0049] 图9为本发明的Ⅳ级绝缘子材料的微观结构图片； [0050] 图10为本发明的Ⅳ级绝缘子材料的微观结构灰度处理后的图片； [0051] 图11为本发明的Ⅴ级绝缘子材料的微观结构图片； [0052] 图12为本发明的Ⅴ级绝缘子材料的微观结构灰度处理后的图片； [0053] 图13为本发明的一种硅橡胶微观结构评价装置实施例的结构框图。 具体实施方式 [0054] 本发明实施例提供了一种硅橡胶微观结构评价方法，用于准确评价绝缘子材料的 微观结构等级，从而根据微观结构等级准确获取待测绝缘子的吸水率、极化损耗程度和异 常发热程度信息。 [0055] 为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明 实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述 的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域 普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护 的范围。 [0056] 实施例一，请参阅图1，图1为本发明的一种硅橡胶微观结构评价方法实施例一的 步骤流程图，所述方法具体可以包括如下步骤： [0057] 步骤S101，响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； [0058] 在本发明实施例中，在接收用户发送的待测复合绝缘子的微观结构评价请求之 后，确定电子显微镜的运行状态，在运行状态正常的情况下，从光学观察区域中确定电子观 察区。 6 6 CN 114166705 A 说明书 4/8页 [0059] 在具体实现中，调节电子显微镜的焦距、对比度和亮度等关键参数，直至光学观察 区内的图像清晰为止，然后从清晰的光学观察区中挑选无可见杂质的区域作为电子观察区 [0060] 步骤S102，选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观 察区测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率； [0061] 本发明实施例通过同样尺寸的电子观察区，测量待测复合绝缘子的填料粒径和孔 隙率。 [0062] 步骤S103，选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观察 区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子上 采集； [0063] 需要说明的是，待测伞裙表层试样和待测伞裙中间试样均来自同一个待测复合绝 缘子。 [0064] 步骤S104，基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和 所述裂纹特征，得到所述待测绝缘子的评价等级。 [0065] 在本发明实施例中，通过响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区；选 取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察区测量待测绝缘子 的填料粒径、孔隙率；选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观 察区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子 上采集；基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和所述裂纹特 征，得到所述待测绝缘子的评价等级。建立一种针对绝缘子硅橡胶微观结构的等级评价方 法，并根据评价得到的微观结构等级，准确获取待测绝缘子的吸水率、极化损耗程度和异常 发热程度信息。 [0066] 实施例二，请参阅图2，为本发明的一种硅橡胶微观结构评价方法实施例二的步骤 流程图，所述方法具体可以包括如下步骤： [0067] 步骤S201，清洗所述待测绝缘子表面的灰尘和脏污； [0068] 绝缘子是一种特殊的绝缘控件，能够在架空输电线路中起到重要作用。绝缘子通 常由硅胶或陶瓷制成，本发明提及的绝缘子的材料的微观结构评价方法是针对硅胶制成的 复合绝缘子。 [0069] 需要说明的是，复合绝缘子的结构包括：金具、芯棒、护套、均压环和多个伞裙。本 发明的复合绝缘子试样分别从电力线路的高压段、中间段和低压段的负荷绝缘子的伞裙中 选取。 [0070] 在本发明实施例中，在对复合绝缘子的材料的微观结构评价前，需要先清理粘附 在待测复合绝缘子试样上的灰尘和脏污，避免影响测量结果。其中待测复合绝缘子试样包 括：6个伞裙表层试样和6个伞裙中间试样，且伞裙表层试样和伞裙中间试样均来自同一款 负荷绝缘子。 [0071] 在具体实现中，可以选择使用高压枪对固定后的支柱绝缘子使用高压水枪进行冲 洗，也可以沾有无水乙醇的无纺布擦拭5～10遍，以去除表面污秽对评价的影响，如有必要， 可加入一定量的除污剂进行清洗。 [0072] 步骤S202，通过金属溅射设备对清洗后的所述待测绝缘子表面进行喷金处理； [0073] 在具体实现中，对于步骤S201完成擦拭之后的复合绝缘子，等待复合绝缘子自然 7 7 CN 114166705 A 说明书 5/8页 干燥，并对自然干燥后的复合绝缘子使用金属溅射设备对样品表面进行喷金处理，喷涂金 属层的厚度为10nm。 [0074] 在本发明实施例中，对于完成喷金处理的复合绝缘子，使用导电胶带使试样观察 区域和电子显微镜金属样品台相连，同时固定样本的位置。注意注意的是，在试样观察区域 和电子显微镜金属样品台连接的过程，要避免除导电胶带以外的任何物品触碰试样观察区 域，试样观察区域被异物碰触，应重新制作样品。 [0075] 需要明白的是，导电胶能够固定待测的负荷绝缘子，而对待测的复合绝缘子喷金， 能够暴露于空气的样品导电，从而在电子显微镜上显示待测复合绝缘子试样的微观结构图 片。 [0076] 步骤S203，响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； [0077] 在本发明实施例中，电子显微镜接收用户的待测绝缘子材料的微观结构评价请求 后，从光学观察区域中确定电子观察区，其中光学观察区域的尺寸为5mm×5mm，而电子观察 区的尺寸为1mm×1mm，用于对完成了清洗和喷金后的待测复合绝缘子的观察分析。 [0078] 步骤S204，在所述电子观察区测量所述伞裙中间层试样中填料的外接球最大直 径，得到所述填料粒径； [0079] 在本发明实施例中，使用伞裙中间层试样来测量填料粒径，且以填料的外接球直 径，如氢氧化铝(ATH)孔径的粒径作为测量依据。基于电子显微镜，基于符合GB/T  16594‑ 2008微米级长度的扫描电镜测量方法，对电子观察区内粒径超过5μm的粒径数量、粒径超过 10μm的粒径数量，以及最大填料颗粒的粒径大小进行识别统计。 [0080] 在具体实现中，通过1000倍放大倍率的电子显微镜对电子观察区进行测量，测量 过程为调节观测区域的大小，对电子观察区分割拍摄，并通过图像处理软件对拍摄图像进 行组合，从而得到电子观察区内的填料粒径大小。 [0081] 步骤S205，在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素点总数量，确定 所述孔隙率，所述像素点总数量为孔隙像素点数量与其他像素点数量之和； [0082] 在一个可选实施例中，在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素点 总数量，确定所述孔隙率，包括： [0083] 选取灰度值在区间[0,100]的像素点所组成的区域为所述孔隙像素点； [0084] 选取灰度值在区间[101,255]的像素点所组成的区域为所述其他像素点； [0085] 以所述孔隙像素点与所述像素点总数量之比作为孔隙率。 [0086] 在具体实现中，采用与填料粒径测量相同的电子观察区确定伞裙中间层试样的孔 隙率：以灰度值作为判断依据，将灰度值在区间[0，100]的像素点组成的区域定义为孔隙像 素点区域；将灰度值在区间[101，255]的像素点组成的区域定义为伞裙中间层试样表面其 他像素点区域。统计孔隙像素点数量和其他像素点数量，然后对孔隙像素点数量和其他像 素点数量求和，得到像素点总数量，以孔隙像素点数量与孔隙像素点数量和其他像素点数 量之比作为样品的孔隙率。 [0087] 步骤S206，选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观察 区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子上 采集； [0088] 在本发明实施例中，使用伞裙表层试样进行表观结构评价。在1000倍放大倍率下 8 8 CN 114166705 A 说明书 6/8页 对电子观察区域进行分析，从6个伞裙表层试样中选取最优区域作为评价区域，判断伞裙表 层试样是否存在裂纹，若存在，则确定裂纹宽度。需要说明的是，评价区域尺寸为250×250μ m。 [0089] 步骤S207，基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和 所述裂纹特征，得到所述待测绝缘子的评价等级。 [0090] 在本发明实施例中，复合绝缘子材料的微观等级评价准则如下表所示： [0091] [0092] 在本发明实施例中，基于预先设定的复合绝缘子微观等级评价准则，结合步骤 S204得到的ATH颗粒孔径的粒径、步骤S205得到的孔隙率和步骤S206得到的裂纹特征，确定 待测复合绝缘子材料的微观等级。 [0093] 在本发明实施例中，通过响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区；选 取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所述电子观察区测量待测绝缘子 的填料粒径、孔隙率；选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试样，在所述电子观 察区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均从所述待测绝缘子 上采集；基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、所述孔隙率和所述裂纹特 征，得到所述待测绝缘子的评价等级。建立一种针对绝缘子微观结构的等级评价方法，并根 据评价得到的微观结构等级，准确获取待测绝缘子的吸水率、极化损耗程度和异常发热程 度信息。 [0094] 为方便本领域技术人员对本发明的有益效果的理解，下面对本发明中复合绝缘子 材料的不同微观结构等级加以示例说明。 [0095] 示例一：请参阅图3和图4，图3为本发明的I级绝缘子的微观结构图片，图4为本发 明的I级绝缘子的微观结构灰度处理后的图片，其中图3所述的微观结构图片通过电子显微 镜观察及灰度处理得到图4后，发现其材料的微观结构中孔隙孔径不超过2μm，无裂纹，ATH 颗粒与其他填料的界面无缝隙，孔隙率为0.45％，且没有10μm以上大颗粒物质，因此将图3 所示绝缘子材料的微观结构图片定义为I级绝缘子。 [0096] 示例二：请参阅图5和图6，图5为本发明的Ⅱ级绝缘子的微观结构图片，图6为本发 明的Ⅱ级绝缘子的微观结构灰度处理后的图片，其中图5所述的微观结构图片通过电子显 9 9 CN 114166705 A 说明书 7/8页 微镜观察及灰度处理得到图6后，发现其材料的微观结构中孔隙孔径不超过2μm，存在裂纹 但宽度不超过2μm，ATH颗粒与其他填料的界面无缝隙孔隙率为1.21％，且没有10μm以上大 颗粒物质，因此将图5所示绝缘子材料的微观结构图片定义为Ⅱ级绝缘子。 [0097] 示例三：请参阅图7和图8，图7为本发明的Ⅲ级绝缘子的微观结构图片，图8为本发 明的Ⅲ级绝缘子的微观结构灰度处理后的图片，其中图7所述的微观结构图片通过电子显 微镜观察及灰度处理得到图8后，发现其材料的微观结构中无裂纹，但孔隙孔径超过2μm， ATH颗粒与其他填料的界面存在缝隙，孔隙为4.35％，且10μm以上大颗粒物质较少，因此将 图7所示绝缘子材料的微观结构图片定义为Ⅲ级绝缘子。 [0098] 示例四：请参阅图9和图10，图9为本发明的Ⅳ级绝缘子的微观结构图片，图10为本 发明的Ⅳ级绝缘子的微观结构灰度处理后的图片，其中图9所述的微观结构图片通过电子 显微镜观察及灰度处理得到图10后，发现其材料的微观结构中无裂纹，但孔隙孔径超过2μ m，ATH颗粒与其他填料的界面存在缝隙，孔隙为9.24％，且10μm以上大颗粒物质较多，因此 将图9所示绝缘子材料的微观结构图片定义为Ⅳ级绝缘子。 [0099] 示例五：请参阅图11和图12，图11为本发明的Ⅴ级绝缘子的微观结构图片，图12本 发明的Ⅳ级绝缘子的微观结构灰度处理后的图片，其中图11所述的微观结构图片通过电子 显微镜观察及灰度处理得到图12后，发现其材料的微观结构中无裂纹，但孔隙孔径超过2μ m，ATH颗粒与其他填料的界面缝隙明显，孔隙为30.42％，存在大量10μm以上大颗粒物质，且 部分颗粒粒径超过20μm，因此将图11所示绝缘子材料的微观结构图片定义为Ⅳ级绝缘子。 [0100] 请参阅图13，示出了一种硅橡胶微观结构评价装置实施例的结构框图，包括如下 模块： [0101] 响应模块101，用于响应于评价请求，从光学观察区域中确定电子观察区； [0102] 测量模块102，用于选取待测伞裙中间层试样，并基于所述伞裙中间层试样，在所 述电子观察区测量待测绝缘子的填料粒径、孔隙率； [0103] 在一个可选实施例中，所述测量模块102包括： [0104] 填料粒径确定子模块，用于在所述电子观察区测量所述伞裙中间层试样中填料的 外接球最大直径，得到所述填料粒径； [0105] 孔隙率确定子模块，用于在所述电子观察区中，通过统计孔隙像素点数量和像素 点总数量，确定所述孔隙率，所述像素点总数量为孔隙像素点数量与其他像素点数量之和。 [0106] 在一个可选实施例中，所述孔隙率确定子模块包括： [0107] 第一选取单元，用于选取灰度值在区间[0,100]的像素点所组成的区域为所述孔 隙像素点； [0108] 第二选取单元，用于选取灰度值在区间[101,255]的像素点所组成的区域为所述 其他像素点； [0109] 孔隙率确定单元，用于以所述孔隙像素点与所述像素点总数量之比作为孔隙率。 [0110] 裂纹特征确定模块103，用于选取待测伞裙表层试样，基于所述待测伞裙表层试 样，在所述电子观察区确定裂纹特征，所述待测伞裙表层试样和所述待测伞裙中间试样均 从所述待测绝缘子上采集； [0111] 等级确定模块104，用于基于预先设定的微观结构评价准则，结合所述填料粒径、 所述孔隙率和所述裂纹特征，得到所述待测绝缘子的评价等级。 10 10 CN 114166705 A 说明书 8/8页 [0112] 在一个可选实施例中，所述装置还包括： [0113] 清洗模块，用于清洗所述待测绝缘子表面的灰尘和脏污； [0114] 喷金模块，用于通过金属溅射设备对清洗后的所述待测绝缘子表面进行喷金处 理。 [0115] 本发明实施例还提供了一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存 有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上述任一实 施例所述的一种硅橡胶微观结构评价方法的步骤。 [0116] 本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述 计算机程序被所述处理器执行时实现如上述任一实施例所述的一种硅橡胶微观结构评价 方法。 [0117] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置 的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。 [0118] 在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其 它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅 仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结 合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的 相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通 信连接，可以是电性，机械或其它的形式。 [0119] 所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显 示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个 网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目 的。 [0120] 另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以 是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单 元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。 [0121] 所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用 时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上 或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式 体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机 设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全 部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read‑Only  Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程 序代码的介质。 [0122] 以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前 述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前 述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些 修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。 11 11 CN 114166705 A 说明书附图 1/6页 图1 12 12 CN 114166705 A 说明书附图 2/6页 图2 13 13 CN 114166705 A 说明书附图 3/6页 图3 图4 图5 14 14 CN 114166705 A 说明书附图 4/6页 图6 图7 图8 15 15 CN 114166705 A 说明书附图 5/6页 图9 图10 图11 16 16 CN 114166705 A 说明书附图 6/6页 图12 图13 17 17

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